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晶振測試儀的性能特點(diǎn)
日期：2025-04-04 19:13
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摘要：
晶振測試儀采用型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)等精度測量。高精度晶振綜合測試儀GDS-80測量精度高，速度快；具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測量，可保存5個(gè)不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù)，負(fù)載電容在2-20P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負(fù)載電容的晶振測試，智能運(yùn)算克服了市場上晶體阻抗計(jì)阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點(diǎn)、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。
性能特點(diǎn)
1. 阻抗值、ppm同時(shí)顯示
2. 無需人工校對，直接測試多種參數(shù)
3. 新技術(shù)，符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)，滿足國人需求，可替代進(jìn)口設(shè)備
4. LCD顯示PPm超標(biāo)提示功能
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